Mit dem Kickoff startete gestern das vom BMBF geförderte Projekt „Schnelle,
interferometrische Topografiemessung bewegter Objekte im Fertigungsprozess
mittels leistungsfähiger Hardware (SITOH)“ im Programm „KMU-innovativ:
Photonik/Optische Technologien“. Im Beisein aller Projektpartner wurden
die Pläne für die nächsten drei Jahre festgelegt und der Arbeitsplan
konkretisiert. Das mit rund 1,25 Millionen Euro geförderte Projekt
erforscht die industrielle Realisierbarkeit der lateral scannende
Weißlichtinterferometrie. Dieses Verfahren ist prädestiniert für die
Charakterisierung von bewegten Oberflächen im Fertigungsprozess,
insbesondere bei der Arbeit mit zylindrischen Objekten. Bei den
assoziierten Partnern Tata Steel Plating Hille & Müller und Hansgrohe
SE wird das System im Fertigungsprozess an unterschiedlichen Werkstücken
evaluiert.